microscopie à force atomique

Libellé préféré : microscopie à force atomique;

Traductions automatiques des définitions par l'ANS : Une technique utilisant une sonde à balayage pour visualiser et analyser la surface d'un matériau avec une résolution au niveau atomique.;

Traductions automatiques par l'ANS : Microscopie à balayage;

Détails

Identifiant d'origine

C17754;

CUI UMLS

C0242849;

Alignements automatiques CISMeF supervisés
- Microscopie à force atomique [MeSH Concept]
- microscopie à force atomique [Descripteur MeSH]
Correspondances UMLS (même concept)
- Microscopie à force atomique [MeSH Concept]
- microscopie à force atomique [Descripteur MeSH]
Type(s) sémantique(s)
- procédure de laboratoire [Type sémantique UMLS]

Position du mot-clé dans l'(les) arborescence(s) :

Vous pouvez consulter :

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