incidences pour dépistage pour implant:Recherche:Ponctuel:sein bilatéral:Document:MG

Libellé préféré : incidences pour dépistage pour implant:Recherche:Ponctuel:sein bilatéral:Document:MG;

Nom usuel long LOINC : MG sein bilatéral ; incidences pour dépistage pour implant;

Details

Identifiant d'origine

48492-3;

CUI UMLS

C1952713;

A pour aspect temporel
- Ponctuel [Aspect temporel LOINC]
A pour composant
- (incidences [Composé LOINC]
- incidences [Composé LOINC]
- incidences pour dépistage [Composé LOINC]
- incidences pour dépistage pour implant [Composé LOINC]
A pour méthode
- mammographie [Méthode LOINC]
A pour propriété
- constatation [Propriété LOINC]
A pour système
- sein [Système LOINC]
- sein - bilatéral et [Système LOINC]
- sein bilatéral [Système LOINC]
A pour échelle
- Document [Échelle LOINC]
Côté
- bilatéral [Partie LOINC]
Côté précisé
- VRAI [Partie LOINC]
Fait partie du panel
- jeu de données HEDIS 2020 - mammographie:-:Ponctuel:Patient:-: [Code LOINC]
- jeu de données HEDIS MY 2020 - mammographie:-:Ponctuel:Patient:-: [Code LOINC]
Incidences multiples
- incidences [Partie LOINC]
Indication de l'examen d'imagerie
- dépistage [Partie LOINC]
- implant [Partie LOINC]
Région anatomique imagée
- sein [Partie LOINC]
Type de modalité en imagerie
- mammographie [Partie LOINC]
Type(s) sémantique(s)
- attribut clinique [Type sémantique UMLS]

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